太陽能電池板檢測檢測國家標(biāo)準(zhǔn)
太陽能級多晶硅塊
1 范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽能級多晶硅塊的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法、檢測規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運輸、貯存等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于利用定向熔鑄技術(shù)所生產(chǎn)切割而形成的，用于切割制備多晶硅片的多晶硅塊。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB 191 包裝儲運圖示標(biāo)志
GB/T 1550 非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測試方法
GB/T 1552 硅、鍺單晶電阻率測定 直排四探針法
GB/T 1553 硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測定光電導(dǎo)衰減法
GB/T 1557 硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量方法
GB/T 1558 測定硅單晶體中代位碳含量的紅外吸收方法
GB/T 4061 硅多晶斷面夾層化學(xué)腐蝕檢驗方法
GB/T 6616 半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測定 非接觸渦流法
GB/T 14264 半導(dǎo)體材料術(shù)語
SEMI MF1389-0704 Ⅲ－Ⅴ號混雜物中對單晶體硅的光致發(fā)光分析的測試方法
3 術(shù)語定義、符號及縮略語
GB/T 14264確立的術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
微晶：產(chǎn)品表面小范圍內(nèi)密集型的晶格排布。
4 分類
4.1 外形尺寸分類
產(chǎn)品按外形尺寸（長×寬）分為125mm×125mm和156mm×156mm或由供需雙方商定規(guī)格。
5 要求
5.1 外觀要求
太陽能級多晶硅塊外觀要求無可視裂紋、崩邊、崩塊、缺口；
5.2 性能
太陽能級多晶硅塊性能要求具體見表1，在表1中未列出的規(guī)格要求由供需雙方商定；
表1
項目 要求
電阻率，Ω?cm 1.0∽3.0
導(dǎo)電類型 P型
少數(shù)載流子壽命（裸測最小值），μs ≥2
氧濃度，atoms/cm3 ≤1×1018
碳濃度，atoms/cm3 ≤5×1017
基體金屬雜質(zhì)，ppmw Fe、Cr、Ni、Cu、Zn
TMI(Total metal impurities)總金屬雜質(zhì)含量：≤1
硼濃度 ≤0.30
磷濃度 ≤0.40
5.3 結(jié)構(gòu)及表面質(zhì)量
5.3.1 太陽能級多晶硅塊中不允許出現(xiàn)氧化夾層；
5.3.2 太陽能級多晶硅塊IR檢測結(jié)果不可出現(xiàn)陰影、雜質(zhì)、裂紋、微晶；
5.3.3 太陽能級多晶硅塊表面粗糙度Ra≤0.2μm；
5.3.4 太陽能級多晶硅塊幾何尺寸偏差不超過±0.5mm。
6 試驗方法
6.1 太陽能級多晶硅塊的外觀檢驗用目測檢查；
6.2 太陽能級多晶硅塊電阻率檢驗按GB/T 1552或GB/T 6616進行；
6.3 太陽能級多晶硅塊導(dǎo)電類型檢驗按GB/T 1550進行；
6.4 太陽能級多晶硅塊少數(shù)載流子壽命檢驗按GB/T 1553進行；
6.5 太陽能級多晶硅塊的氧含量檢驗按GB/T 1557進行；
6.6 太陽能級多晶硅塊的碳含量檢驗按GB/T 1558進行；
6.7 太陽能級多晶硅塊基體金屬雜質(zhì)按照SEMI MF1389-0704測試；
6.8 太陽能級多晶硅塊斷面夾層檢驗按GB/T 4061測試；
6.9 太陽能級多晶硅塊IR檢測方法：將太陽能級多晶硅塊至于850μm紅外光源下，通過攝像機觀察成像效果。
6.10 太陽能級多晶硅塊表面粗糙度用表面粗糙度測試儀測得，測試點在所試表面隨機獲得。測試要求測量硅塊的相鄰兩側(cè)面，兩端面不用測量。
6.11 太陽能級多晶硅塊幾何尺寸采用通用量具測得，但最小精度應(yīng)不小于0.02mm
7 檢驗規(guī)則
7.1 檢驗分類
檢驗分：出廠檢驗和型式試驗。
7.2 出廠檢驗
7.2.1 每批產(chǎn)品應(yīng)經(jīng)供方技術(shù)（質(zhì)量）監(jiān)督部門進行檢驗，保證產(chǎn)品質(zhì)量符合本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，并附有產(chǎn)品質(zhì)量合格的技術(shù)文件，方可出廠；
7.2.2 出廠檢驗項目包括4.1、5.1、5.2中的電阻率、導(dǎo)電類型及少數(shù)載流子壽命和5.3.2、5.3.3、5.3.4項。
7.3 判定規(guī)則
7.3.1 每批產(chǎn)品的檢驗項目均采用全數(shù)檢驗，或由供需雙方協(xié)商解決。
7.3.2 合格質(zhì)量水平(AQL)規(guī)定為Ac=0，Re=1，或由供需雙方協(xié)商解決。
7.4 型式試驗
7.4.1 有下列情況之一，應(yīng)進行型式試驗：
A）新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制鑒定；
B）正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料、工藝有較大改變可能影響產(chǎn)品性能時；
C）正常生產(chǎn)時，每隔一年進行一次；
D）產(chǎn)品長期停產(chǎn)后，又恢復(fù)生產(chǎn)時；
E）出廠檢驗結(jié)果與上次型式試驗有較大差異時；
F）國家質(zhì)量監(jiān)督機構(gòu)提出進行型式檢驗的要求時。
7.4.2 型式試驗項目包括本標(biāo)準(zhǔn)所列全部要求的內(nèi)容；
7.4.3 型式試驗樣品應(yīng)從出廠檢驗合格的產(chǎn)品中隨機抽取，試樣為3PCS；
7.4.4 在型式試驗中，如有1項不符合本標(biāo)準(zhǔn)要求時，則應(yīng)從該批產(chǎn)品中，抽取加倍數(shù)量進行不合格項目試驗，如仍不符合該項的要求時，則該項型式試驗判為不合格，該批產(chǎn)品做不合格論。
8 標(biāo)志、包裝、運輸和貯存
8.1 包裝、標(biāo)志
8.1.1 產(chǎn)品封裝于相應(yīng)規(guī)格木箱內(nèi)，四周用不小于20mm的珍珠棉填充緊密，以防止損壞產(chǎn)品；
8.1.2 所有出廠產(chǎn)品包裝箱應(yīng)采取防破碎、防損傷、防臟污措施。箱外應(yīng)標(biāo)有“小心輕放”、“防酸”、“防堿”和“防潮”警示標(biāo)志且應(yīng)符合GB 191的要求；
8.1.3 產(chǎn)品包裝箱在顯眼處應(yīng)標(biāo)注如下內(nèi)容：
a) 客戶名稱；
b) 數(shù)量；
c) 產(chǎn)品規(guī)格；
d）產(chǎn)品重量；
e) 產(chǎn)品執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)號；
f) 出廠編號；
g) 制造廠商；
h) 廠址、電話。
8.1.4 產(chǎn)品發(fā)運時，應(yīng)附有成品出庫單，應(yīng)包含以下內(nèi)容：
a) 客戶名稱；
b) 產(chǎn)品規(guī)格；
c) 數(shù)量；
d) 件數(shù)；
e）總重量
f) 出廠編號；
g) 出廠日期；
h) 發(fā)貨單位、發(fā)貨人；
i) 制造廠商。
8.1.5 每批產(chǎn)品應(yīng)附有產(chǎn)品檢驗報告, 應(yīng)包含以下內(nèi)容：
a) 客戶名稱；
b) 產(chǎn)品規(guī)格；
c) 產(chǎn)品編號；
d) 檢驗日期；
e) 各項檢驗結(jié)果及檢驗部門印章。
8.2 運輸、貯存
8.2.1 產(chǎn)品在運輸過程中應(yīng)輕裝輕卸，嚴(yán)禁拋擲，并采取防震、防潮措施；
8.2.2 產(chǎn)品應(yīng)貯存在潔凈、干燥環(huán)境中。
